2023 年 4 月 20 日 - 领先的国际机器视觉软件提供商 MVTec Software GmbH (www.mvtec.com) 将于 2023 年 5 月 23 日发布其标准机器视觉软件 HALCON 的 23.05 版本。新版本的重点是深度学习方法。其中的主要功能是 Deep counting，这是一种基于深度学习的方法，可以对大量物体进行稳定可靠的计数。此外，新的 HALCON 版本还整合了对深度学习技术 3D 抓取点检测以及 Deep OCR 训练的改进。现在可以借助 HALCON 23.05 进一步优化底层的深度学习网络，这些网络已经针对用户自有应用，使用行业相关图像进行过预先训练。这可以让 Deep OCR 应用的识别率更加稳定，也可以帮助使用 3D 抓取点检测技术的应用更可靠地检测合适的抓取面。此外，还有许多其他有益的改进，例如，现在将外部代码集成HALCON 中时更加方便。“我们发现客户对将深度学习方法整合到自有解决方案的兴趣大增。我们在开发新的HALCON 版本时正是以此为导向，而成果是新的深度学习技术和进一步的开发拓展，帮助客户得到更精确的结果，”MVTec HALCON 产品经理 Jan Gärtner 解释道。

Deep counting从 HALCON 23.05 开始，客户可以使用“Deep counting”功能，它可以快速可靠地对大量物体进行计数和位置检测。与现有的机器视觉方法相比，这种基于深度学习的技术具有明显的优势：功能部署非常迅速，因为需要标记和训练的物体很少，而且这两个步骤都可以在HALCON 中轻松完成。即使是高反射率非晶材料制成的物体，这项技术也能提供可靠的结果。利用 Deep counting 可以对大量物体进行计数，例如玻璃瓶、树干或食品等。

Deep OCR 的训练

Deep OCR 可以非常稳定地读取文字，甚至不会受到方向和字体的影响。这项技术会首先检测图像中的相关文本，然后进行读取。借助 HALCON 23.05，现在还可以通过使用特定于应用的图像重新训练预先训练过的网络，对文本检测进行微调。这样产生的结果更加稳定，同时还开启了新的可能性。例如：检测任意印刷类型或此前未见的字符类型的文本，以及提高低对比度嘈杂环境中的读取能力。

3D 抓取点检测的训练

3D 抓取点检测可以可靠地检测任何物体上适合用吸力抓取的表面。在 HALCON 23.05 中，现在可以用特定于应用的自有图像数据重新训练预先训练过的模型。这样就能更稳定地识别可抓取的表面。利用 MVTec 深度学习工具，可以轻松高效地完成必要的标注工作。

简易扩展接口

借助 HALCON 扩展包，可以集成外部编程语言。HALCON 23.05 中的外部代码集成更加方便。现在使用全新的 Easy Extensions Interface，用户只需几个步骤就可以在 HDevelop 和HDevEngine 中使用自己用 .NET 代码编写的函数。甚至还可以使用 HALCON/.NET 语言界面中已知的数据类型和 HALCON 算子。客户收益：现在，HALCON 可以涵盖单纯图像处理之外的功能。这增加了 HALCON 的灵活性和应用可能性。

MVTec Software GmbH 是一家全球领先的机器视觉软件制造商，其产品可用于所有要求苛刻的成像领域，如半导体行业、表面检测、自动化光学检测系统、质量控制、计量、医学或监控。尤其是，MVTec 的软件可以在工业物联网环境中，通过使用 3D 视觉、深度学习和嵌入式视觉等现代技术，实现新的自动化解决方案。 MVTec 的总部设立在慕尼黑(德国)，在波士顿 (美国) 和昆山 (中国) 设有分公司，并建立了国际分销网络，在全球超过 35 个国家/地区设有代理。

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